





簡要描述:QVWLI606白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,可根據WLI光學系統(tǒng)獲取的3D數(shù)據進行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據3D數(shù)據進行指定高度的尺寸測量和截面形狀測量。
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廠商性質:代理商
更新時間:2025-06-06
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QVWLI606白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,可根據WLI光學系統(tǒng)獲取的3D數(shù)據進行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據3D數(shù)據進行指定高度的尺寸測量和截面形狀測量。






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